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標題: 掃描電鏡可以測什么？ [打印本頁]

作者: 科恒儀器 時間: 2025-3-13 11:26
標題: 掃描電鏡可以測什么？
　　掃描電鏡（SEM）是一種多功能分析工具，主要用于觀察樣品的表面形貌和微觀結構，同時結合其他探測器還能進行成分分析和晶體結構表征。以下是SEM的主要應用領域和測試內(nèi)容：

　　1.表面形貌觀察

　　高分辨率成像：

　　觀察樣品表面的微觀形貌（如顆粒、孔洞、裂紋、纖維等）。

　　分辨率可達納米級別（通常1-10nm，取決于儀器性能）。

　　三維形貌重建：通過傾斜樣品或立體對成像技術，獲得表面三維形貌信息。

　　2.成分分析

　　能譜分析（EDS）：

　　通過X射線能譜儀檢測樣品表面的元素組成。

　　可進行定性（元素種類）和定量（元素含量）分析。

　　適用于元素周期表中原子序數(shù)≥5（硼）的元素。

　　波譜分析（WDS）：

　　分辨率高于EDS，適合微量元素的精確分析。

　　3.晶體結構分析

　　電子背散射衍射（EBSD）：

　　分析樣品的晶體取向、晶粒大小、相分布等。

　　適用于金屬、陶瓷、礦物等結晶材料。

　　4.特殊性能分析

　　磁性材料分析：

　　通過特殊探測器觀察磁疇結構。

　　導電性分析：

　　結合電子束誘導電流（EBIC）技術，研究半導體材料的電學性能。

　　動態(tài)過程觀察：

　　使用環(huán)境掃描電鏡（ESEM）觀察樣品在濕度、溫度變化下的動態(tài)行為（如潤濕、腐蝕、相變等）。

　　5.納米材料表征

　　觀察納米顆粒、納米線、納米管的形貌和分布。

　　結合EDS分析納米材料的元素組成。

　　6.生物樣品觀察

　　觀察細胞、組織、微生物等生物樣品的表面形貌。

　　需進行固定、脫水、噴鍍等預處理。

　　7.材料斷面分析

　　通過切割、拋光或聚焦離子束（FIB）制備樣品斷面，觀察內(nèi)部結構（如涂層、界面、缺陷等）。

　　8.其他應用

　　顆粒分析：測量顆粒尺寸、形狀和分布。

　　失效分析：觀察斷裂面、腐蝕區(qū)域、磨損痕跡等。

　　考古與地質(zhì)樣品分析：研究礦物、巖石、化石的微觀結構和成分。

　　SEM的主要優(yōu)勢

　　高分辨率：可觀察納米級細節(jié)。

　　大景深：適合粗糙表面成像。

　　多功能性：結合多種探測器，實現(xiàn)形貌、成分、結構綜合分析。

　　廣泛適用性：適用于金屬、陶瓷、高分子、生物、納米材料等多種樣品。

　　總之，掃描電鏡是一種強大的分析工具，廣泛應用于科學研究、工業(yè)檢測和質(zhì)量控制等領域，能夠提供豐富的微觀信息！

作者: 驕傲的豬豬 時間: 2025-3-25 18:41
作者對這個話題的研究很全面，讓我收獲頗豐。

作者: 小狗也想沒煩惱 時間: 2025-3-26 22:52
樓主的帖子很有深度，值得反復品味。

作者: 笑料滿鍋炒 時間: 2025-10-23 18:22
有沒有更具體的例子來說明你的觀點呢？

作者: 9549872679@6 時間: 2025-11-29 07:25
樓主的思考很深入，學習了。

作者: bayiliu 時間: 2025-12-9 00:53
我之前也遇到過類似的情況，或許可以互相交流一下。

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