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標(biāo)題: 光電測試加熱臺(tái) [打印本頁]

作者: 小鵲被打扁了 時(shí)間: 2025-6-25 13:45
標(biāo)題: 光電測試加熱臺(tái)
光電測試加熱臺(tái)測試儀特點(diǎn)：
升溫速度可精確控制，精度達(dá)±0.25℃
體積小巧，占地空間小
真空漏率優(yōu)秀，真空度高
探針種類豐富，可根據(jù)用戶需求進(jìn)行定制
模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)客戶要求定制
用途：
光電測試加熱探針臺(tái)測試儀用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD、二維材料測試、電鏡掃描、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)等系統(tǒng)中的重要部件。
主體：HR24-4（4探針）。
腔體材質(zhì)：AL6061 (可定制SUS304腔體)密封方式：氟膠圈電信采集接口：標(biāo)配BNC接口腔體進(jìn)氣口：6mm(特殊可定制)腔體外尺寸：150mm×100mm×45mm樣品臺(tái)尺寸：φ50mm樣品觀察窗：35mm
通光口直徑：φ5mm，HR24-6（6探針）。
探針組件：（單組價(jià)格），真空型同軸接口探針夾具（普通型，需要抽真空時(shí)選擇）
光電測試加熱臺(tái)真空型三軸接口探針夾具（抗干擾性強(qiáng)，應(yīng)用于半導(dǎo)體，需要抽真空時(shí)選擇）

作者: 墨色繪夢 時(shí)間: 2025-12-9 18:09
謝謝分享，學(xué)到了新知識(shí)。

作者: 光測儀器 時(shí)間: 半小時(shí)前
這個(gè)經(jīng)驗(yàn)很實(shí)用

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