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繼電保護(hù)測(cè)試儀精度受哪些因素影響?

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樓主
發(fā)表于 2025-7-4 13:36:19 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
  繼電保護(hù)測(cè)試儀精度的影響因素
  1.內(nèi)部硬件性能:核心元器件(如ADC/DAC芯片、精密電阻電容)的精度直接決定信號(hào)轉(zhuǎn)換準(zhǔn)確性;功率模塊穩(wěn)定性不足會(huì)導(dǎo)致輸出波形畸變,影響測(cè)試精度。
  2.校準(zhǔn)狀態(tài):未定期校準(zhǔn)或校準(zhǔn)流程不規(guī)范,會(huì)使設(shè)備參數(shù)偏移;校準(zhǔn)環(huán)境(如溫度、濕度)不符合要求,也會(huì)導(dǎo)致基準(zhǔn)值偏差。
  3.環(huán)境干擾:強(qiáng)電磁環(huán)境(如變電站高壓設(shè)備)會(huì)耦合到測(cè)試回路,造成信號(hào)失真;溫度劇烈變化會(huì)使電子元件參數(shù)漂移(如電阻溫漂),影響輸出穩(wěn)定性。
  4.操作與設(shè)置:參數(shù)輸入錯(cuò)誤(如電流/電壓量程選擇不當(dāng))、接線(xiàn)接觸不良或線(xiàn)纜阻抗不匹配,會(huì)引入附加誤差;測(cè)試負(fù)載超出設(shè)備額定范圍,可能導(dǎo)致輸出精度下降。
  5.軟件算法誤差:信號(hào)處理算法(如諧波模擬、相位計(jì)算)的優(yōu)化程度不足,會(huì)導(dǎo)致理論值與實(shí)際輸出存在偏差,尤其在復(fù)雜故障模擬時(shí)更為明顯。

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  • TA的每日心情
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    2024-7-29 14:49
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    [LV.1]初來(lái)乍到

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    發(fā)表于 2025-12-5 00:04:48 | 只看該作者
    支持樓主,希望能看到更多這樣的好帖子。
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    發(fā)表于 2025-12-5 05:28:48 | 只看該作者
    你的帖子總是那么精彩,期待更新。
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    發(fā)表于 6 天前 | 只看該作者
    謝謝樓主毫無(wú)保留的分享,讓我們?cè)诠ぷ髦卸嗔藚⒖家罁?jù)~
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